AFM yüzey topografisini angtrom seviyesinden 100 microna kadar gösterebilen bir metoddur. Çok duyarlı bir iğnenin yüzeyi taramasıyla Atomik seviyedeki kuvvetler de nanonewton hassasiyetinde ölçülebilir. Elektronik, Telekominikasyon, Biyoloji, Kimya, Otomotiv, Uzay-Havacılık, ve Enerji ile ilişkili endüstri dallarında yüzey işleme ve malzeme problemlerinin çözülmesinde kullanılmaktadır. Hızla gelişen nanoteknoloji için vazgeçilmez bir araçtır.

Bölümümüzde daha önce Dr. Hadi Zareie ve Dr. Cengiz Koçum tarafından bir STM imal edilmişti. Sonrasında Dr. Hadi Zareie tarafından temeli atılan AFM çalışmaları Dr. Cengiz Koçum, Emrecan Çubukçu ve Doğutan Ülgentarafından sürdürülmüştür. 2002 Ocak itibariyle Advanced Surface Microscopy, INc. Calibration Certificate, Test & kalibrasyon kiti başarıyla görüntülenmiştir.

Bölümüzde imal edilen ilk AFM (Ocak, 2002)

ilk AFM bir optik mikroskop kasası üzerine kurulmuştu. Optik mikroskop iğne ve ornegin ekilesiminin takip edilmesini sagliyordu. İğne eski bir floppy disk kasaına monte edilmiş harddisk kafasına tutturulmuştu. Ve lazerin optik odaklaması hurda bir cd-romdam sökülen mercekle saglaniyordu. (Ayrıntılı bilgi...)

AFM'nin Son hali ( Aralik, 2003)

AFM devamlı üzerinde devamlı denemeler yaparak geliştirildiği için çalışma rahatlığı önemliydi. Bilgisayarda tasaraımı yapılrak uygun bir gövde üzerine AFM bileşenleri monte edildi. Bütün sistem dış etkileri azaltmak için izole edildi. Yazılım geliştirildi. (Ayrıntılı bilgi)