AFM (Atomic Force Microscope)  

Bölümüzde imal edilen AFM'mizin ilk görüntüleri...

AFM yüzey topografisini angtrom seviyesinden 100 microna kadar gösterebilen bir metoddur. Çok duyarlı bir iğnenin yüzeyi taramasıyla Atomik seviyedeki kuvvetler de nanonewton hassasiyetinde ölçülebilir. Elektronik, Telekominikasyon, Biyoloji, Kimya, Otomotiv, Uzay-Havacılık, ve Enerji ile ilişkili endüstri dallarında yüzey işleme ve malzeme problemlerinin çözülmesinde kullanılmaktadır. Hızla gelişen nanoteknoloji için vazgeçilmez bir araçtır.

Bölümümüzde daha önce Dr. Hadi Zareie ve Dr. Cengiz Koçum tarafından bir STM imal edilmişti. Sonrasında Dr. Hadi Zareie tarafından temeli atılan AFM çalışmaları Dr. Cengiz Koçum ve Emrecan Çubukçu ve Doðutan Ülgen tarafından sürdürülmüştür. 2002 Ocak itibariyle Advanced Surface Microscopy, INc. Calibration Certificate, Test & kalibrasyon kiti başarıyla görüntülenmiştir.

Sağda ve soldaki resimlerde bir optik mikroskop kasası üzerinde geliştiriliren AFM görülmektedir. Lazerin iğne üzerine odaklanmasınn gözlemlenmesi için bir CCD kamera üste monte edilmiştir. Lazer kaynağından gelen ışın iğne üzerinden yansıyarak sensöre gelir. İğneden yansıyarak sensöre gelen ışınn şiddeti örnek yüzeyinde gezinen iğnenin yüksekliğiyle orantılıdır. Örneğin x-y yönlerindeki hareketi mikroskopun alt tarafında gözüken bi piezo scanner tarafından sağlanır. (AFM için ayrıntılı bilgi)

 

 Verilerin toplanması amacıyla piyasada bulunabilen yüksek performanslı PCL 818 kartı (Adaptech, Tayvan) temin edilmiştir. Bu kart üzerindeki AD (Analog-Sayısal dönüştürücü) akım bilgilerin toplanması, DA (Sayısal-Analog dönüştürücü) ise tarama iğnesinin pozisyonunu kontrol etmek amacıyla kullanılmıştır. Bu işlemler için yanda resmi görünen windows altında çalışan bir program geliştirilmiştir.

 

Bir mikroçip yüzeyi ve toplanan verilerin görüntülenmesi amacıyla geliştirilen programın ekran görüntüsü...(7x7 micron) (görüntüleme programı hakında ayrıntılı bilgi)

 

Advanced Surface Microscopy Calibration Certificate Model 750-HD high durability calibration Reference Specimen

 anasayfa